萬深LC系列高精度芯片計數儀
1．儀器原理與用途：
通過成像來獲取平面上的芯片圖像，并進行自動計數分析，測量出其顆粒數量。
2．主要性能指標：
1）具有微距拍攝特性自動對焦的大景深800萬像素（3264x2448像素）拍攝儀來成像。
2）晶粒尺寸≥200um×200um，最小間隙≥200um，有效計數晶粒的視野60× 60mm左右。若晶粒尺寸和最小間隙都加倍，有效計數晶粒的視野也可加倍。
3）計數速度和誤差：拍照+運算時間≤3秒，誤差≤±0.2%。經極少量手動修正后可達100%準確。
4）可接入條碼槍來自動刷入樣品編號，分析圖像和分析結果可導出存儲，以便進行產量統計和交易憑證。
4．儀器規格與配置：
自動對焦的大景深800萬像素拍攝儀1臺、開放式背光燈板1付、1個條碼槍、軟件鎖1只、軟件光盤1張（含電子版操作手冊）。
注：電腦需另配，建議選14代酷睿i5 CPU/16G內存，運行環境Windows10或11完整專業版。
檢測展示
